Biblioteksøk
Vis søkeskjema
Søkeord
Søk
Nullstill filter
·
Nytt søk
Avgrens søket
Velg sortering
Sortering
Relevans (titler likest søkeord først)
Utgivelsesår (nyeste først)
Tittel
Person
Sortering
Søk kun i bestemt felt
Søk i alle felt
Tittel
Ord i tittel
Forfatter/Medvirkende
Emne/Omtalt
ISBN
Dewey-nr
Avgrens på brukernivå barn, voksen osv
Passer for
Barn og ungdom
Voksne
Avgrens på format. (Bok, DVD, Lydbok, etc.)
Alle formater/medier
Bøker
Lydbøker
Digitalt innhold
Blu-ray
DVD
Musikk - alle formater
Musikk på CD
Musikk på Vinyl
Musikk på DVD
Musikk på Blu-ray
Musikknoter
Tegneserier
Språkkurs
PC-spill
Playstation-spill
Xbox-spill
Nintendo-spill
Avgrens på språk
Alle språk
Norsk
Bokmål
Nynorsk
Engelsk
Svensk
Dansk
Afrikaans
Albansk
Amharisk
Arabisk
Armensk
Aserbadjansk
Asturiansk
Baskisk
Belarusisk
Bengali
Bosnisk
Bretonsk
Bulgarsk
Burmesisk
Cambodiansk
Dari
Dinka
Egyptisk
Engelsk (mellomengelsk)
Eskimo
Esperanto
Estisk
Etiopisk
Farsi
Filippinsk
Finsk
Flamsk
Flerspråklig
Fransk
Færøysk
Gaelisk
Georgisk
Gresk, klassisk
Gresk, moderne
Grønlandsk
Gujarati
Hausa
Hebraisk
Hindi
Igbo
Inarisamisk
Indonesisk
Ingen
Irsk
Islandsk
Italiensk
Japansk
Katalansk
Kikongo
Kinesisk
Kinyarwanda
Kirundi
Koreansk
Kroatisk
Kurdisk
Kurmanji
Kvensk
Latin
Latvisk
Litauisk
Lulesamisk
Makedonsk
Montenegrinsk
Nederlandsk
Nepalesisk
Nordsamisk
Norrøn
Oromo
Panjabi
Pashto
Polsk
Portugisisk
Romani
Rumensk
Russisk
Samisk (andre)
Serbisk
Shona
Skoltesamisk
Slovakisk
Slovensk
Somalisk
Sorani
Spansk
Språk ikke angitt
Swahili
Sørsamisk
Tagalog
Tamil
Tatarisk
Thai
Tigrinja
Tsjekkisk
Twi
Tyrkisk
Tysk
Ubestemt
Uigurisk
Ukrainsk
Ungarsk
Urdu
Uten språklig innhold
Vietnamesisk
Walisisk
Wolof
Xhosa
Yoruba
Fra år
Til år
Skjul avgrensninger
5 treff
electronic digital circuits testing
Testability of electronic circuits
Manfred Weyerer and Gerald Goldemund ; tr...
Bok
·
Engelsk
·
1991
·
Vis mer
Bestill
Proceedings : 2010 19th IEEE Asian Test Symposium : ATS 2010 : 1-4 December 2010, Shanghai, China /
Asian Test Symposium
Bok
·
Engelsk ·
Vis mer
Bestill
2006 IEEE International Test Conference : Santa Clara, CA : 22-27 October 2006.
International Test Conference
Bok
·
Engelsk ·
Vis mer
Bestill
Digital hardware testing : transistor-level fault modeling and testing
Rochit Rajsuman
Bok
·
Engelsk
·
1992
·
Vis mer
Bestill
SOC (System-on-a-Chip) testing for plug and play test automation
edited by Krishnendu Chakrabarty
Bok
·
Engelsk
·
2002
·
Vis mer
Bestill
Biblioteksøk
Meny
Startside
Lånekurv
English
Nynorsk
Davvisámegillii (Nordsamisk)
Valgt språk:Bokmål
Min profil
Logg inn
Lukk meny
