Electron microscopy and analysis

Peter J. Goodhew, John Humphreys, Richard Beanland
Bok · Engelsk · 2001

Utgitt	London : Taylor & Francis , c2001
Omfang	X, 251 s. : ill.
Utgave	3rd ed.
Emner	Electron microscopy Analyse : (NO-TrBIB)REAL000136 Analyser : (NO-TrBIB)REAL003808 Elektronmikroskopi : (NO-TrBIB)REAL002347 Vis mer... Kondenserte fasers fysikk Materialer : (NO-TrBIB)REAL009437 Microscopy
Dewey	502.825
ISBN	0748409688