Atomic-scale imaging of surfaces and interfaces : symposium held November 30-December 2, 1992, Boston, Massachusetts, USA
editors: David K. Biegelson, S. Y. Tong, David J. Smith
Bok Engelsk 1992
| Utgitt | Pittsburgh PA : Materials Research Society , 1992
|
|---|---|
| Omfang | ix, 288 s. : ill.
|
| Emner | Grenseflater
Kondenserte fasers fysikk Mikroskopi Mikrostruktur Vis mer... Overflater
Sveipmikroskopi faststoffysikk overflater grenseflater mikroskopi mikrostruktur rastertunnelmikroskopi |
| ISBN | 1558991905
|
