Symbiosis of microprocessor and film techniques in X-ray diffractometry
Emil J. Samuelsen, Roger Moret and Ragnvald Høier
Bok Språk ikke angitt 1987
Utgitt | [S.l.] : IOP Publ. , 1987
|
---|---|
Omfang | Bl. [1264]-1268 : ill.
|
Opplysninger | Særtrykk av: J. phys. E: Sci. instrum., 20(1987).
|