Symbiosis of microprocessor and film techniques in X-ray diffractometry

Emil J. Samuelsen, Roger Moret and Ragnvald Høier
Bok · Språk ikke angitt · 1987

Utgitt	[S.l.] : IOP Publ. , 1987
Omfang	Bl. [1264]-1268 : ill.
Opplysninger	Særtrykk av: J. phys. E: Sci. instrum., 20(1987).