Dopant depth distribution in In-doped Si grown by molecular beam epitaxy
Johan Knall
Bok Engelsk 1985
Utgitt | Linköping : Universitetet i Linköping, Inst. för fysik och mätteknik , 1985
|
---|---|
Omfang | 1 b. (flere pag.) : ill.
|
Emner | |
ISBN | 9173729418
|
Utgitt | Linköping : Universitetet i Linköping, Inst. för fysik och mätteknik , 1985
|
---|---|
Omfang | 1 b. (flere pag.) : ill.
|
Emner | |
ISBN | 9173729418
|