Fundamental principles of engineering nanometrology

Richard K. Leach
Bok · Engelsk · 2010

Utgitt	Amsterdam : Elsevier , 2010
Omfang	XXVI, 321 s. : ill.
Emner	Måleteknikk Nanoteknologi nanoteknologi måleteknikk målevitenskap standardisering
ISBN	9780080964546