Hyperspectral imaging as a tool for characterization of multicrystalline silicon wafers = : Hyperspektral avbildning som et verktøy for karakterisering av multikrystallinske skiver av silisium


Andreas Svarstad Flø
Bok Engelsk 2014
Annen tittel
Utgitt
Ås : Department of Mathematical Sciences and Technology, Faculty of Environmental Sciences and Technology, Norwegian University of Life Sciences , 2014
Omfang
1 b. (flere pag.) : ill.
Opplysninger
Delvis opptrykk av artikler. - Sammendrag på norsk. - Avhandling (ph.d.) - Norges miljø- og biovitenskapelige universitet, Ås, 2014
Emner
Silicon
Tools
hyperspektral verktøy avbildning karakterisering silisium
Dewey
ISBN
9788257511517

Bibliotek som har denne