Multiscale modelling of vacancy-related defects in stress-free and strained Si and Si/Si₁₋xGex heterostructures
Svetlana Nicolaysen
Bok Engelsk 2008
| Utgitt | [Oslo] : Faculty of Mathematics and Natural Sciences, University of Oslo , 2008
|
|---|---|
| Omfang | VI, 110 s. : ill.
|
| Opplysninger | Avhandling (ph.d.) - Universitetet i Oslo, 2008
|
| Emner | Elektronikk
Fysikalsk elektronikk Fysikk Gitterfeil : (NO-TrBIB)REAL013909 Vis mer... Halvledere
Krystallfeil Silisium Elektronikk((NO-TrBIB)REAL000162) Fysikk((NO-TrBIB)REAL003067) Halvledere((NO-TrBIB)REAL005740) Silisium((NO-TrBIB)REAL012199) doktoravhandlinger fysikk fysikalsk elektronikk defekter halvledere silisium |
| Dewey |
