Electron microscopy based characterization of semiconductor nanowires
Vidar Tonaas Fauske
Bok Engelsk 2016
Utgitt | Trondheim : Norwegian University of Science and Technology, Faculty of Natural Sciences and Technology, Department of Physics , 2016
|
---|---|
Omfang | XIV, 121 s. : ill. (noen kol.)
|
Opplysninger | Delvis opptrykk av artikler. - Avhandling (ph.d.) – Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet, Trondheim, 2016
|
Emner | |
Dewey | |
ISBN | 978-82-326-1700-5
|