Microscopic identification of electronic defects in semiconductors : symposium held April 15-18, 1985, San Francisco, California, USA
editors: N. M. Johnson ... [et al.]
Bok Engelsk 1985
Utgitt | 1985
|
---|---|
Omfang | xv, 604 s.
|
Emner | |
ISBN | 0931837111
|
Utgitt | 1985
|
---|---|
Omfang | xv, 604 s.
|
Emner | |
ISBN | 0931837111
|