Wire bonding in microelectronics : materials, processes, reliability, and yield


George G. Harman
Bok Engelsk 1997
Utgitt
New York : McGraw-Hill , c1997
Omfang
XIV, 290 s. : ill.
Utgave
2nd ed.
Opplysninger
Rev. utg. av: Reliability and yield problems of wire bonding in microelectronics. 1989.
Emner
ISBN
0070326193

Bibliotek som har denne