Optical modeling and characterization of layers and multilayer structures : organic optoelectronic devices and spectroscopic ellipsometry


Leif A.A. Pettersson
Bok Engelsk 1999
Utgitt
Linköping : Department of Physics and Measurement Technology, Linköpings universitet , 1999
Omfang
XVIII, 178 s. : ill.
Opplysninger
Avhandling (tekn. dr.) - Linköpings universitet, 1999
Emner
ISBN
9172195525

Bibliotek som har denne