Conférence internationale sur ellipsométrie et autres méthodes optiques pour l'analyse des surfaces et films minces = Ellipsometry and other optical methods for surface and thin film analysis : 7-10 juin 1983, Paris (France)
Conférence internationale sur ellipsométrie et autresméthodes optiques pour l'analyse des surfaces et films minces
Bok Språk ikke angitt 1983
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| Utgitt | [Orsay] : Les Éditions de physique , 1983
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| Omfang | XVIII, 533 s. : ill.
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| Opplysninger | Supplement til: Journal de physique, 44(1983)nr 12.
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| ISBN | 2902731698
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