SCANTEST : et program som tilrettelegger VLSI-kretser for testbarhetsanalyse og automatisk testmønstergenerering (ATG) når kretsen er modellert i TEGAS og SCAN-PATH-teknikken er benyttet
av Jakob Gakkestad
Bok Språk ikke angitt 1986
Utgitt | Oslo , 1986
|
---|---|
Omfang | 19, [29] bl. : fig.
|
ISBN | 8272678705
|