Physics and modeling of point defects in silicon and silicon carbide

Søk kun i bestemt felt Avgrens på brukernivå barn, voksen osv

Avgrens på format. (Bok, DVD, Lydbok, etc.) Avgrens på språk

Fra år

Til år


Utgitt	[Oslo] : Faculty of Mathematics and Natural Sciences, University of Oslo : Unipub , 2005
Omfang	1 b. (flere pag.) : ill.
Opplysninger	Delvis opptrykk av artikler. - Avhandling (dr. scient.) - Universitetet i Oslo, 2005
Emner	Halvledere Sensorer Silisium halvledere silisium detektorer defekter
Dewey	620.19

Biblioteksøk