Optimized structure parameter determination from convergent beam electron diffraction

Søk kun i bestemt felt Avgrens på brukernivå barn, voksen osv

Avgrens på format. (Bok, DVD, Lydbok, etc.) Avgrens på språk

Fra år

Til år


Utgitt	Trondheim : SINTEF, Applied Physics , 1990
Omfang	Bl. 492-493 : ill.
Opplysninger	Elektronisk reproduksjon
Emner	Elektroner - Spredning Elektronmikroskopi
ISBN	8259560127

Biblioteksøk