A New approach for modeling of current degradation in hot-electron damaged LDD NMOSFETs
T. Ytterdal ... [et al.] and T.A. Fjeldly
Bok Engelsk 1995
Utgitt | [New York] : IEEE , c1995
|
---|---|
Omfang | s. 362-365 : ill.
|
Utgitt | [New York] : IEEE , c1995
|
---|---|
Omfang | s. 362-365 : ill.
|