Multiscale modelling of vacancy-related defects in stress-free and strained Si and Si/Si₁₋xGex h - detaljert visning

Søk kun i bestemt felt Avgrens på brukernivå barn, voksen osv

Avgrens på format. (Bok, DVD, Lydbok, etc.) Avgrens på språk

Fra år

Til år


Utgitt	[Oslo] : Faculty of Mathematics and Natural Sciences, University of Oslo , 2008
Omfang	VI, 110 s. : ill.
Opplysninger	Avhandling (ph.d.) - Universitetet i Oslo, 2008
Emner	Elektronikk Fysikk Gitterfeil Halvledere Vis mer... Silisium doktoravhandlinger fysikk fysikalsk elektronikk defekter halvledere silisium
Dewey	621.381

Biblioteksøk