Introduction to semiconductor device yield modeling

Albert V. Ferris-Prabhu
Bok · Engelsk · 1992

Utgitt	Boston : Artech House , c1992
Omfang	XII, 91 s. : ill.
Emner	Semiconductor industry - Quality control Semiconductors - Defects Halvledere - Feil og skader Sannsynlighetsregning
ISBN	0890064504