Electrical characterization of majority carrier traps in electron irradiated epitaxial N-type Si


Lars Sundnes Løvlie
Bok Engelsk 2007
Utgitt
Oslo : L.S. Løvlie , 2007
Omfang
v, 116, iv s. : ill.
Opplysninger
Masteroppgave i fysikk - Universitetet i Oslo, 2007
Emner
fysikk halvleder silisium elektronbestrålt punktdefekt epitaktisk elektronfeller

Bibliotek som har denne