Rough surface scattering and contamination : 21-23 July 1999, Denver, Colorado
·
Philip T.C. Chen, Zu-Han Gu, Alexei A. Maradudin, chairs/editors ; sponsored and published by SPIE - the International Society for Optical Engineering
Bok
·
Engelsk
·1999
Detaljer
Utgitt
Bellingham, Wash. : SPIE , c1999
Omfang
VII, 404 s. : ill.
Opplysninger
Bidrag fra: SPIE Conference on Optical System Contamination: Effects, Measurements, and Control VII; og SPIE Conference on Scattering and Surface Roughness III
ISBN
0819432709
Bibliotek som har denne
NTNU Universitetsbiblioteket: Teknologibiblioteket har 0 av 0 ledig (Oppdaterer)
