Semiconductor material and device characterization

Søk kun i bestemt felt Avgrens på brukernivå barn, voksen osv

Avgrens på format. (Bok, DVD, Lydbok, etc.) Avgrens på språk

Fra år

Til år


Utgitt	New York : Wiley , c1998
Omfang	XXIV, 760 s. : ill.
Utgave	2nd ed.
Emner	Fysikalsk elektronikk Halvledere (Fysikk) Halvlederkomponenter - Prøving halvledere karakterisering materialer komponenter
Dewey	621.381
ISBN	0471241393

Biblioteksøk