Advances in x-ray diffractometry and x-ray spectrography : A volume of fifteen selected reprints from Philips laboratories Irvington-on-Hudson New York, U.S.A.
Edited by William Parrish
Bok
·
Engelsk
·1962
Detaljer
Utgitt
Centrex Publishing Company : Eindhoven , 1962
Omfang
xv, 233 s. : ill.
Bibliotek som har denne
UiO : Universitetsbiblioteket: Realfagsbiblioteket har 0 av 0 ledig (Oppdaterer)