Rasterkraftmikroskopie an Nanostrukturen für Halbleiterlaser
Dirk Wüllner
Bok Tysk 1998
Utgitt | Düsseldorf : VDI-Verlag , 1998
|
---|---|
Omfang | IX, 105 s. : ill.
|
ISBN | 3183730081
|
Utgitt | Düsseldorf : VDI-Verlag , 1998
|
---|---|
Omfang | IX, 105 s. : ill.
|
ISBN | 3183730081
|