Yield and variability optimization of integrated circuits

Søk kun i bestemt felt Avgrens på brukernivå barn, voksen osv

Avgrens på format. (Bok, DVD, Lydbok, etc.) Avgrens på språk

Fra år

Til år


Utgitt	Boston : Kluwer , c1995
Omfang	XV, 234 s. : ill.
Emner	Integrated circuits - Defects Integrated circuits - Design and construction Statistical methods Integrated circuits - Reliability Integrerte kretser - DAK
ISBN	0792395514

Biblioteksøk