Forces in scanning probe methods

Søk kun i bestemt felt Avgrens på brukernivå barn, voksen osv

Avgrens på format. (Bok, DVD, Lydbok, etc.) Avgrens på språk

Fra år

Til år


Utgitt	Dordrecht : Kluwer Academic , c1995
Omfang	XIII, 644 s. : ill.
Opplysninger	"Proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Forces in Scanning Probe Methods, Schluchsee, Germany, March 7-18, 1994" - Tittelsidens bakside
Emner	Elektronmikroskopi Rastertunnelmikroskopi Sveipmikroskopi elektronmikroskopi rasterelektronmikroskopi sondemikroskopi
ISBN	079233406X

Biblioteksøk