LSI/VLSI testability design

Søk kun i bestemt felt Avgrens på brukernivå barn, voksen osv

Avgrens på format. (Bok, DVD, Lydbok, etc.) Avgrens på språk

Fra år

Til år


Utgitt	N.Y. : McGraw-Hill , cop. 1988
Omfang	XV, 702 s. : fig.
Opplysninger	Har bibliografi.
Emner	elektronikk integrerte kretser vlsi lsi elektroniske storskalaintegrasjon large scale integration ekstra very testing
ISBN	0071003568

Biblioteksøk