Computed electron micrographs and defect identification

Søk kun i bestemt felt Avgrens på brukernivå barn, voksen osv

Avgrens på format. (Bok, DVD, Lydbok, etc.) Avgrens på språk

Fra år

Til år


Utgitt	Amsterdam : North-Holland , 1973
Omfang	X, 400 s. : ill.
Emner	Electron microscopy - Data processing Metals - Defects Data processing Databehandling Elektronmikroskopi Vis mer... Gitterfeil krystallfeil elektronmikroskopi databehandling
ISBN	0444104623. - 0720417570

Biblioteksøk