Symposium i anvendt statistik : teknometri og biometri / red., Agnar Høskuldsson, Knut Conradsen, Jon Stene


Symposium i anvendt statistik: teknometri og biometri
Bok Språk ikke angitt 1979
Utgitt
[Lyngby] : NEUCC, Det Regionale Edb-center ved Danmarks Tekniske Højskole , 1979
Omfang
273,217 s. : fig., tab., diagr.
Opplysninger
Har bibliografi.
Emner

Bibliotek som har denne