Symposium i anvendt statistik : teknometri og biometri / red., Agnar Høskuldsson, Knut Conradsen, Jon Stene
Symposium i anvendt statistik: teknometri og biometri
Bok Språk ikke angitt 1979
Utgitt | [Lyngby] : NEUCC, Det Regionale Edb-center ved Danmarks Tekniske Højskole , 1979
|
---|---|
Omfang | 273,217 s. : fig., tab., diagr.
|
Opplysninger | Har bibliografi.
|
Emner |