Atom-probe field ion microscopy and its applications

Søk kun i bestemt felt Avgrens på brukernivå barn, voksen osv

Avgrens på format. (Bok, DVD, Lydbok, etc.) Avgrens på språk

Fra år

Til år


Utgitt	Boston : Academic Press , c1989
Omfang	vii, 299 s. : ill.
Emner	Ionemikroskopi Kondenserte fasers fysikk Mikroskopi Overflater atomsonder feltionemikroskopi faststoffysikk overflater
ISBN	0120145820

Biblioteksøk