Transmission electron microscope investigation of the growth of copper precipitate colonies in silic - detaljert visning

Søk kun i bestemt felt Avgrens på brukernivå barn, voksen osv

Avgrens på format. (Bok, DVD, Lydbok, etc.) Avgrens på språk

Fra år

Til år


Utgitt	[New York] : American Institute of Physics , 1973
Omfang	S. 3682-3688 : ill.
Opplysninger	Særtrykk av: Journal of applied physics, 44(1973)nr 8.

Biblioteksøk