Examining the submicron world

Søk kun i bestemt felt Avgrens på brukernivå barn, voksen osv

Avgrens på format. (Bok, DVD, Lydbok, etc.) Avgrens på språk

Fra år

Til år


Utgitt	New York : Plenum Press , c1986
Omfang	xii, 372 s. : ill.
Opplysninger	"Proceedings of a NATO Advanced Study Institute on Improved Methods for Examining the Submicron World, held July 28-August 11, 1984, in Nova Scotia, Canada" - Tittelsidens bakside.
Emner	Elektronmikroskopi Mikroskopi Røntgenkontroll elektronmikroskopi
ISBN	0306422786

Biblioteksøk