Conférence internationale sur ellipsométrie et autres méthodes optiques pour l'analyse des surfaces et films minces = Ellipsometry and other optical methods for surface and thin film analysis : 7-10 juin 1983, Paris (France)
Conférence internationale sur ellipsométrie et autresméthodes optiques pour l'analyse des surfaces et films minces
Bok Språk ikke angitt 1983