Electron microscopy based characterization of semiconductor nanowires


Vidar Tonaas Fauske
Bok Engelsk 2016
Utgitt
Trondheim : Norwegian University of Science and Technology, Faculty of Natural Sciences and Technology, Department of Physics , 2016
Omfang
XIV, 121 s. : ill. (noen kol.)
Opplysninger
Delvis opptrykk av artikler. - Avhandling (ph.d.) – Norges teknisk-naturvitenskapelige universitet, Trondheim, 2016
Emner
Halvledere - Mikroskopi
doktoravhandlinger phd fysikk elektronmikroskopi nanoteknologi
Dewey
ISBN
978-82-326-1700-5

Bibliotek som har denne