X-ray diffraction studies of glasses in the systems Na₂O-SiO, K₂O-SiO₂ and Cs₂O-SiO₂

Søk kun i bestemt felt Avgrens på brukernivå barn, voksen osv

Avgrens på format. (Bok, DVD, Lydbok, etc.) Avgrens på språk

Fra år

Til år


Utgitt	[S.l.] , 1972
Omfang	S. 215-218
Opplysninger	Særtrykk av: Silicates industriels, 37(1972)

Biblioteksøk