Thin film analysis by X-ray scattering
Mario Birkholz ; with contributions by Paul F. Fewster, Christoph Genzel
Bok Engelsk 2006
Utgitt | Weinheim : Wiley , 2006
|
---|---|
Omfang | XXII, 356 s. : ill.
|
Emner | |
Dewey | |
ISBN | 3527310525. - 9783527310524
|
Utgitt | Weinheim : Wiley , 2006
|
---|---|
Omfang | XXII, 356 s. : ill.
|
Emner | |
Dewey | |
ISBN | 3527310525. - 9783527310524
|