Scanning electron microscopy and X-ray microanalysis
Joseph I. Goldstein ... [et al.]
Bok · Engelsk · 2003
| Utgitt | New York : Kluwer Academic/Plenum Publishers , c2003
|
|---|---|
| Omfang | XIX, 690 s. : ill. + 1 CD-ROM (12 cm)
|
| Utgave | 3rd ed.
|
| Opplysninger | CD-ROM i lomme. - Også utgitt av Springer
|
| Emner | |
| ISBN | 0306472929. - 9780306472923
|
- Forsvarets forskningsinstitutt: Biblioteket har 0 av 0 ledig (Oppdaterer)
- Institutt for energiteknikk: Biblioteket har 0 av 0 ledig (Oppdaterer)
- Nasjonalmuseet for kunst, arkitektur og design: Biblioteket har 0 av 0 ledig (Oppdaterer)
- Nordenfjeldske kunstindustrimuseum: Biblioteket har 0 av 0 ledig (Oppdaterer)
- NTNU Universitetsbiblioteket: Realfagbiblioteket har 0 av 0 ledig (Oppdaterer)
- SINTEF AS: Biblioteket Fv1, Oslo har 0 av 0 ledig (Oppdaterer)
- UiO : Universitetsbiblioteket: HumSam-biblioteket. Arkeologi har 0 av 0 ledig (Oppdaterer)
- UiO : Universitetsbiblioteket: Realfagsbiblioteket. Naturhistorisk Museum har 0 av 0 ledig (Oppdaterer)
- Universitetsbiblioteket i Agder: Grimstad har 0 av 0 ledig (Oppdaterer)
- Universitetsbiblioteket i Stavanger: Arkeologisk museum har 0 av 0 ledig (Oppdaterer)
- Universitetsbiblioteket i Stavanger: Ullandhaug har 0 av 0 ledig (Oppdaterer)