Microscopic identification of electronic defects in semiconductors : symposium held April 15-18, 1985, San Francisco, California, USA

editors: N. M. Johnson ... [et al.]
Bok · Engelsk · 1985

Utgitt	1985
Omfang	xv, 604 s.
Emner	Elektronmikroskopi Gitterfeil : (NO-TrBIB)REAL013909 Halvledere Krystallfeil Vis mer... Mikroskopi halvledere mikroskopi elektronmikroskopi krystallfeil
ISBN	0931837111