Electron and ion microscopy and microanalysis : principles and applications

Lawrence E. Murr
Bok · Engelsk · 1991

Utgitt	New York : Marcel Dekker , c1991
Omfang	xiv, 837 s. : ill.
Utgave	2nd ed., rev. and expanded.
Emner	Electron microscopy Field ion microscopy Microprobe analysis Elektronmikroskopi Vis mer... Kondenserte fasers fysikk Materialer faststoffysikk materialer elektronmikroskopi ionemikroskopi
ISBN	0824785568