Exploring the SEU dependence on supply voltage scaling in 90 nm and 65 nm CMOS flip-flops

Søk kun i bestemt felt Avgrens på brukernivå barn, voksen osv

Avgrens på format. (Bok, DVD, Lydbok, etc.) Avgrens på språk

Fra år

Til år


Utgitt	[Oslo] : University of Oslo, Faculty of Mathematics and Natural Sciences, Department of Informatics , 2017
Omfang	VII, 105 s. : ill. (noen kol.)
Opplysninger	Delvis opptrykk av artikler. - Avhandling (ph.d.) - Universitetet i Oslo, 2017
Emner	CMOS Elektriske kretser Kretsdesign
Dewey	621.3815

Biblioteksøk