Physical principles of electron microscopy : an introduction to TEM, SEM, and AEM

Ray F. Egerton
Bok · Engelsk · 2007 R.F. Egerton

Utgitt	New York : Springer , c2007
Omfang	XII, 202 s. : ill.
Emner	Electron microscopy Elektronmikroskopi
ISBN	0387258000. - 9780387258003