SCANTEST : et program som tilrettelegger VLSI-kretser for testbarhetsanalyse og automatisk testmønstergenerering (ATG) når kretsen er modellert i TEGAS og SCAN-PATH-teknikken er benyttet

av Jakob Gakkestad
Bok · Språk ikke angitt · 1986

Utgitt	Oslo , 1986
Omfang	19, [29] bl. : fig.
ISBN	8272678705