Point defects in silicon carbide for quantum technologies : identification, tuning and control

Søk kun i bestemt felt Avgrens på brukernivå barn, voksen osv

Avgrens på format. (Bok, DVD, Lydbok, etc.) Avgrens på språk

Fra år

Til år


Omfang	xvi, 270 sider : illustrasjoner
Opplysninger	Delvis opptrykk av artikler. - Avhandling (ph.d.) - Universitetet i Oslo, 2020
Emner	Kvantedatabehandling Punktdefekter Silisiumkarbid
Dewey	537.6223

Biblioteksøk