10 treff

Backdrive of fast IC's : backdrive stress effects on fast digital integrated circuits like FAST, AS, ALS, and HCMOS during in-circuit testing
Birger Schneider ... [et al.]
Bok Dansk 1986
E2PROMs : a comparative evaluation into the performance of E2PROMs under various extreme environmental and operating test conditions
Birger Schneider, Claes Hansen, Gert Jørg...
Bok Dansk 1986
Halvlederteknologi i Danmark : et forslag til en indsats for forskning, uddannelse og teknologisk service i Danmark inden for det halvlederteknologiske område
Schneider, Birger
Bok Dansk 1985
EPROM : vurdering af 2708 og 2716 EPROM : pålidelighed og stabilitet under forskellige miljøpåvirkninger
Claes Hansen, Finn Fregil, Birger Schneid...
Bok Dansk 1979
Characterization of Random Access Memories : strategies, test patterns and parameters involved in the characterization of RAM memories and an evaluation of 16 k RAM's of 8 manufactures / Eskild Jensen, Birger Schneider
Jensen, Eskild
Bok Dansk 1979
CMOS integrated circuits : an evaluation of 21 variants of type 4011 and 4013 plastic and ceramic encapsulated CMOS IC's
Schneider, Birger
Bok Dansk 1977
Tyristorer : en undersøgelse af kvaliteten og stabiliteten af 5 laveffekt tyristortyper under forskjellige miljøpåvirkninger
Schneider, Birger
Bok Dansk 1977
IC-operational amplifiers : an evaluation of 32 variants of general purpose operational amplifiers covering 9 manufacturers
Schneider, Birger
Bok Engelsk 1976
Problemer ved test af komplekse IC : en gennemgang af en del specielle problemer ved test af MSI og LSI kredse som f.eks. RAM, ROM og CPU
Schneider, Birger
Bok Dansk 1975
Fejlmekanismer i monolitiske IC : hvordan opstår fejl i IC, hvordan ytrer de sig og hvad kan producent og bruger af IC gøre for at motvirke fejl
Schneider, Birger
Bok Dansk 1974