Electrical characterization of majority carrier traps in electron irradiated epitaxial N-type Si
Lars Sundnes Løvlie
Bok Engelsk 2007
Utgitt | Oslo : L.S. Løvlie , 2007
|
---|---|
Omfang | v, 116, iv s. : ill.
|
Opplysninger | Masteroppgave i fysikk - Universitetet i Oslo, 2007
|
Emner | fysikk halvleder silisium elektronbestrålt punktdefekt epitaktisk elektronfeller
|